三维表面轮廓测量机父视图W1

粗糙度 对于半导体 工业

项目编号W1产品名称:父视图W1为纳米三维表面,形成标准的视野:(0.49 * 0.49)毫米最大的视野:测试对象(6 x6)毫米反射率:0.5% ~ 100%可重复性的粗糙度均方根:0.005 nm扫描范围:≤10毫米决议:0.1纳米精度测量阶段:0.3%的可重复性测量阶段:SuperView W1 Optical 3D Surface profilometer SuperView W1 Optical 3D Surface profilometer SuperView W1 Optical 3D Surface profilometer SuperView W1 Optical 3D Surface profilometer SuperView W1 Optical 3D Surface profilometer SuperView W1 Optical 3D Surface profilometer SuperView W1 Optical 3D Surface profilometer基于白光干涉技术原理，结合精密z向扫描模块和三维建模算法，对物体表面进行无接触扫描，建立物体表面的三维图像。通过XtremeVision软件对三维图像进行处理和分析，得到一系列反映物体表面质量的二维、三维参数。SuperView W1是一款用户友好的精密光学仪器，具有强大的分析功能，可以对各种表面形状和粗糙度参数进行分析。独特的光源，可测量各种精密零件的光滑和粗糙表面。适用于半导体、3C电子、超精密加工、光学加工、微纳材料、微机电系统等行业的精密零件表面粗糙度和轮廓的测量与分析。