红外光谱仪维IconIR

AFM 工业 用于研究和开发

Bruker的大样本尺寸IconIR系统将纳米级红外(IR)光谱和扫描探针显微镜(SPM)结合在一个平台上，为学术研究人员和工业用户提供最先进的光谱、成像和属性映射功能。结合数十年的研究和技术创新，IconIR提供了无与伦比的性能，基于和建立在行业最佳的AFM测量能力的Dimension Icon®。该系统使相关显微镜和化学成像具有更高的分辨率和单层灵敏度，而其独特的大样本架构为最广泛的应用提供了最终的样品灵活性。大样本高性能纳米红外光谱在样品类型和应用中提供了更高的灵活性和性能。相关的化学和纳米级属性映射提供定量的纳米化学，纳米力学和纳米电数据。亚10nm光热AFM-IR成像通过单层灵敏度实现最高分辨率表征。在单个系统中，IconIR提供了最高性能的纳米红外光谱、化学成像分辨率和单层灵敏度。