弯曲试验机ts75摩擦镜

穿 自动化 材料

Bruker公司的Hysitron TS 75 TriboScope为原子力显微镜世界提供了定量的、刚性探针的纳米压痕和纳米摩擦学表征能力。Hysitron TriboScope与Bruker的Dimension Icon、Dimension Edge和MultiMode 8 AFMs接口，扩展了这些显微镜的表征能力。通过使用一个刚性的测试探头，TriboScope消除了悬臂测量的固有限制、可变性和复杂性，在纳米到微米的长度范围内提供定量和可重复的机械和摩擦学特性。刚性探针定量表征消除了基于悬臂梁的纳米压痕测试技术固有的不确定性和复杂性。专利电容式传感器技术，对纳米压痕过程提供卓越的控制，并提供业界领先的力和位移噪音地板。直观的机械界面流线型集成流行的商业可用afm，包括布鲁克的尺寸图标，尺寸边缘，和多模8系统。准静态纳米压痕定量表征小体积材料的力学性能扫描磨损在纳米尺度测量耐磨性刚性探针优势大多数AFMs利用一个柔性悬臂来进行机械或摩擦学测试，在分离悬臂的弯曲和旋转刚度与材料对施加应力的响应方面，提出了重大挑战。