x射线光谱仪S2 PUMA系列2 -映射阶段

而已 实验室 监控

S2 PUMA系列2与测绘阶段使多点质量监测一个容易的任务。它可以让你量化样品的元素组成，甚至是涂层的厚度，具有高精度和空间分辨率(低至1毫米)。线性运动驱动位置的样品精确和再现。实际位置可以通过集成的高清摄像头记录下来。映射阶段将S2 PUMA系列2的应用范围扩展到需要空间分辨率的半导体和涂层领域。刀片可用于各种样品尺寸，直径从40毫米到152毫米。可根据要求定制插入件。主要优点测量材料的均匀性和/或涂层厚度小的和大的样品-直径可达152毫米的准直遮罩，光斑尺寸从1到34毫米，高精度线性工作台，用于精确定位集成高清相机自动图像采集